4月12日下午，行知講壇第186講在橫江校區(qū)教學(xué)樓一樓報告廳舉行。數(shù)學(xué)與統(tǒng)計學(xué)院王小飛博士作題為“幾類具有隨機效應(yīng)的隨機過程退化模型的統(tǒng)計推斷”主題報告，近200名師生參加報告會。報告會由數(shù)學(xué)與統(tǒng)計學(xué)院院長汪宏健主持。
王小飛博士基于帶隨機效應(yīng)的維納過程, 伽瑪過程和逆高斯過程對退化數(shù)據(jù)進行建模，研究小樣本下產(chǎn)品相關(guān)可靠性指標的統(tǒng)計推斷問題，通過構(gòu)建廣義樞軸量，得到了產(chǎn)品感興趣可靠性指標的置信區(qū)間。通過模擬研究，證明所建的廣義置信區(qū)間優(yōu)于基于大樣本辦法的Wald置信區(qū)間或者bootstrap置信區(qū)間。
王小飛，博士，數(shù)學(xué)與統(tǒng)計學(xué)院教師。2017年9月至2021年1月在浙江工商大學(xué)統(tǒng)計與數(shù)學(xué)學(xué)院攻讀博士學(xué)位。主要從事可靠性與質(zhì)量管理的相關(guān)研究工作。主持安徽高校自然科學(xué)研究重點項目、安徽省高校優(yōu)秀拔尖人才培育項目、黃山學(xué)院國家基金培育項目等項目若干項。參與國家自然科學(xué)基金項目兩項。已在Reliability Engineering and System Safety（RESS）、Quality and Reliability Engineering International（QREI）、Applied Mathematical Modelling（AMM）等期刊上發(fā)表論文多篇。其中《Degradation Data Analysis Based on Gamma Process with Random Effects.》被Top期刊《European Journal of Operational Research》接收發(fā)表。
（撰稿：數(shù)學(xué)與統(tǒng)計學(xué)院 吳巧燕 ；攝影：數(shù)學(xué)與統(tǒng)計學(xué)院 吳巧燕；審核：數(shù)學(xué)與統(tǒng)計學(xué)院 汪宏?。回熑尉庉嫞盒麄鞑?田甜）
